梅特勒XS系列0.01mg超越系列分析天平
梅特勒0.01mg超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操 作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更安全。
梅特勒天平
大称量范围：210 g 可读性：0.0001 g 线性：± 0.0003 g 重复性：0.0001 g 稳定时间（典型）：4 s 去皮范围：0...210 g 外部砝码校准：200 g
电子分析天平jf1004 jf1204
JF系列精密电子天平采用新一代电磁式传感器，通过高性能单片微处理机控制，使产品精度有了可靠保障,高清晰大液晶显示屏易于观察和适用于各种环境。是集精准、稳定
梅特勒ME204分析天平
易于操作 易于使用的界面可直接进入各种应用程序和日常校准。 辅以清洁方便的特点，您的日常任务将变得快捷而高效。
